熱脹冷縮兩箱式高低溫沖擊機(jī)吊籃式快速

熱脹冷縮兩箱式高低溫沖擊機(jī)吊籃式快速

制冷系統(tǒng)及壓縮機(jī):為了保證試驗(yàn)箱降溫速率和低溫度的要求，本試驗(yàn)箱采用一套進(jìn)口法國(guó)全封閉壓縮機(jī)所組成的二元復(fù)疊式風(fēng)冷制冷系統(tǒng)。復(fù)疊式冷 系統(tǒng)包含一個(gè)高溫制冷循環(huán)和一個(gè)低溫制冷循環(huán)，其連接容器為蒸發(fā)冷凝器，蒸發(fā)冷凝器是也到能量傳遞的作用，將工作室內(nèi)熱能通過(guò)兩級(jí)制冷系統(tǒng)傳遞出去，實(shí)現(xiàn)隆溫的目的。制冷系統(tǒng)的設(shè)計(jì)應(yīng)用能量調(diào)節(jié)技術(shù)，一種行之有效的處理方式既能保證在制冷機(jī)組正常運(yùn)行的情況下又能對(duì)制冷系統(tǒng)的能耗及制冷量進(jìn)行有效的調(diào)節(jié)，使制冷系統(tǒng)的運(yùn)行費(fèi)用和故障率下降到較為經(jīng)濟(jì)的狀態(tài)。

主要特點(diǎn)：

1. 產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝先進(jìn)、選材考究，風(fēng)冷式冷熱沖擊試驗(yàn)箱具有簡(jiǎn)單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能。

2. 設(shè)備分為高溫箱,低溫箱,測(cè)試箱三部分,采斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物靜止，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷,熱溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測(cè)試目的.

3. 采用計(jì)測(cè)裝置, 控制器采用大型彩色液晶人機(jī)觸控對(duì)話式LCD人機(jī)接口控制器,操作簡(jiǎn)單, 學(xué)習(xí)容易, 穩(wěn)定可靠,中，英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。

4. 具96個(gè)試驗(yàn)規(guī)范獨(dú)立設(shè)定,沖擊時(shí)間999小時(shí)59分鐘, 循環(huán)周期1~999次可設(shè)定, 可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)，****上實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，減輕操作人員工作量，可在任意時(shí)間自動(dòng)啟動(dòng)﹑停止工作運(yùn)行；

5. 箱體左側(cè)具一直徑 50mm 之測(cè)試孔，可供外加電源負(fù)載配線測(cè)試部件。

熱脹冷縮兩箱式高低溫沖擊機(jī)吊籃式快速

選擇執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)（根據(jù)用戶要求）

5、·GB10586-2008濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件         ·GB/T2423.4-2008交變濕熱試驗(yàn)方法

6、·GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件         ·GJB150.3-86高溫試驗(yàn)

7、·GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件       ·GJB150.3-86低溫試驗(yàn)

8、·GBI1158高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件              ·GJB150.7-86太陽(yáng)輻射試驗(yàn)

9、·GB2423.1-2008低溫試驗(yàn)方法              ·GJB150.8-86淋雨試驗(yàn)

10、·GB2423.2-2008高溫試驗(yàn)方法              ·GJB159.9-86濕熱試驗(yàn)

11、·GB/T2423.3-2006恒定濕熱試驗(yàn)方法        ·GJB150.10-86霉菌試驗(yàn)

參照標(biāo)準(zhǔn)：
GJB 150.3A-2009 試驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 試驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：低溫試驗(yàn)
GJB 150.5A-2009 試驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：溫度沖擊試驗(yàn)
GB/T2423.22-2012環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)_第2_部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)A：低溫
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)_第2_部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)B：高溫